为此，来自美国 NIH 的学者 Reich 教授等进行了一项研究，旨在通过 3T 核磁 T2 增强像以及 Flair 像明确 MS 患者中软脑膜强化的发生率以及性质，并确定患者去世后 7T 核磁检查结果与尸检病理检查的相关性。研究结果表明约有 25% 的患者会出现软脑膜强化，其可作为 MS 患者脑膜炎症和白质脱髓鞘的一个无创性生物标志物，该研究发表于近期的 Neurology 杂志。
本研究纳入 299 例 MS 患者以及 37 例年龄匹配的无神经系统疾病的健康对照者，对这些患者和受试者进行前瞻性头颅 MRI 检查，包括 T2 增强像以及 Flair 像。由专家来评估是否存在软脑膜强化。两例进展性 MS 患者进行了尸检病理学检查，采用病理学和免疫组化学检查来评估软脑膜炎症强化与临近皮层脱髓鞘之间的相关性。
299 例 MS 患者中 74 例患者（25%）出现了局灶性软脑膜强化，而健康对照者中仅有 1 例患者出现（2.7%），两组相比具有显著统计学差异。进展型 MS 患者中脑膜强化出现率是复发缓解型患者的 2 倍。在长达 5.5 年的随访期内，患者的脑膜强化出现率基本保持稳定。病理学检查显示在强化区域出现的血管周围淋巴细胞和单核细胞浸润与临近的皮层脱髓鞘相关。
该研究结论认为 MS 患者中脑膜强化的发生率很高，其可作为脑内炎症反应和相关皮层脱髓鞘的生物标志物，在体能检测到并且无创。这可能有助于开发消除炎症反应的新疗法。
研究者在文中指出，未来的研究需要进一步提高对微小脑膜强化检测的敏感性，以便更加详细地描述脑膜强化的发展变化。需要开展更多前瞻性的研究评估针对炎症特异性治疗的疗效，比如抗 CD20 治疗，目前正在研究中。
